介质损耗因数
LDJD-B型介质损耗因数测试仪在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
适用标准
GB/T1409-2006《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》（等效IEC60250：1969）
GB/T1693-2007《硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》
ASTMD150《StandardTestMethodsforACLossCharacteristicsandPermittivity(DielectricConstant)ofSolidElectricalInsulation》
LDJD-B型介质损耗因数测试仪主要参数：
*1.信号源:DDS数字合成信号10kHZ-70MHZ
*2.信号源频率精度3×10-5±1个字,6位有效数
3．Q值测量范围：1～1023
4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
*5．电感测量范围：1nH～8.4H自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6．电容直接测量范围：1pF～2.5uF
*7．主电容调节范围：30～540pF
8.准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信号源频率覆盖范围10kHz～70MHz
10．合格指示预置功能范围：5～1000
11．环境温度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13.S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
https://www.chem17.com/st397761/product_31870527.html
http://www.htweichuang.com/SonList-1855497.html