膜厚检测仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

膜厚检测仪的影响因素有哪些？

1、基体金属磁性量

磁性法测厚受基体金属磁性变革的影响(正在实际应用中，低碳钢磁性的变革能够认为是细微的)，为了制止热处置和冷加工因素的影响，应使用取试件基体金属具有不异性量的尺度片对仪器停止校准；亦可用待涂覆试件停止校准。

2、基体金属电性量

基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率取其质料成分及热处置办法有关。使用取试件基体金属具有不异性量的尺度片对仪器停止校准。

3、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于那个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

4、边沿效应

本仪器对试件外表外形的陡变敏感。因而正在靠近试件边沿或内转角处停止丈量是不成靠的。

5、曲率

试件的曲率对丈量有影响。那种影响总是跟着曲率半径的减少明显地删大。因而，正在弯曲试件的外表上丈量是不成靠的。

6、试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因而正在那些试件上测出可靠的数据。

膜厚检测仪

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