分立器件测试仪

分立器件测试仪测试参数：

漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、

BVEBO、BVGSS、BVGKO

增益参数：hFE、CTR、gFS、

导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、

IDON、VSAT、IDON、Notch=IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

关断参数：VGSOFF

触发参数：IGT、VGT

保持参数：IH、IH+、IH-

锁定参数：IL、IL+、IL-

分立器件测试仪系统特征：

●测试范围广（19大类，27分类）

●采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS

●被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏

●真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大）

●系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障

http://www.igbttest.com/SonList-1076627.html

https://www.hbzhan.com/st567685/product_18536064.html